在可靠性與壽命測(cè)試環(huán)節(jié)，高精度恒溫恒濕箱通過(guò)加速老化試驗(yàn)縮短測(cè)試周期。例如對(duì) 5G 通信芯片，設(shè)定 60℃、90% RH 的恒定濕熱環(huán)境，持續(xù) 1000 小時(shí)測(cè)試，模擬芯片在長(zhǎng)期高濕環(huán)境下的使用狀態(tài)，通過(guò)監(jiān)測(cè)芯片的電流、電壓參數(shù)變化，預(yù)判其使用壽命。同時(shí)，設(shè)備搭載的多點(diǎn)溫度巡檢系統(tǒng)，可實(shí)時(shí)采集元件不同部位的溫度數(shù)據(jù)，精準(zhǔn)分析局部發(fā)熱對(duì)元件性能的影響，為元件結(jié)構(gòu)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。