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產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品展示/ Product display
半導(dǎo)體封裝可靠性測試恒溫恒濕試驗箱是專用于評估半導(dǎo)體器件、集成電路(IC)及電子元器件在特定溫濕度環(huán)境下長期工作可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。它通過精確模擬高溫高濕、高溫低溫、溫濕度循環(huán)等嚴(yán)苛條件,加速誘發(fā)產(chǎn)品可能存在的失效(如腐蝕、分層、開裂、電性能漂移等),從而驗證封裝工藝、材料性能及產(chǎn)品壽命,是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)質(zhì)量控制和研發(fā)核心測試儀器。
產(chǎn)品型號:SMA-80PF
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2025-12-13
訪 問 量:612
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半導(dǎo)體封裝可靠性測試恒溫恒濕試驗箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
一、 產(chǎn)品概述
恒溫恒濕試驗箱是專用于評估半導(dǎo)體器件、集成電路(IC)及電子元器件在特定溫濕度環(huán)境下長期工作可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。它通過精確模擬高溫高濕、高溫低溫、溫濕度循環(huán)等嚴(yán)苛條件,加速誘發(fā)產(chǎn)品可能存在的失效(如腐蝕、分層、開裂、電性能漂移等),從而驗證封裝工藝、材料性能及產(chǎn)品壽命,是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)質(zhì)量控制和研發(fā)核心測試儀器。
二、 主要用途
主要用于進(jìn)行半導(dǎo)體行業(yè)相關(guān)的可靠性壽命測試與環(huán)境應(yīng)力篩選,核心測試項目包括:
HAST(高加速溫濕度應(yīng)力測試):在高溫、高濕、高氣壓下,極速評估封裝的耐濕氣能力。
THB(溫濕度偏壓測試):在溫濕度條件下施加電偏壓,評估金屬化腐蝕和離子遷移。
PCT(高壓蒸煮試驗):評估封裝體抵抗水汽侵入和內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整性的最嚴(yán)苛測試。
溫濕度循環(huán)(T/H Cycling):模擬季節(jié)或晝夜變化,評估材料熱膨脹不匹配導(dǎo)致的疲勞失效。
高溫高濕存儲(H/H Storage):評估器件在長期濕熱環(huán)境下的穩(wěn)定性。
半導(dǎo)體封裝可靠性測試恒溫恒濕試驗箱三、 技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:通常 -70℃ ~ +180℃(或更高),范圍廣以滿足不同測試標(biāo)準(zhǔn)。
濕度范圍:10% RH ~ 98% RH,部分機型可做到5%~98% RH。
升溫/降溫速率:1~5℃/min(線性或可編程),快速溫變型可達(dá)15℃/min以上。
溫度均勻度:≤±0.5℃ ~ ±2.0℃(國標(biāo)要求)。
濕度波動度:≤±2.0% RH。
內(nèi)箱材質(zhì):高級不銹鋼(如SUS304),耐腐蝕、防污染。
控制精度:溫度±0.1℃,濕度±1.0% RH。
四、 主要功能及特點
高精度控制:采用高靈敏度傳感器與PID/模糊算法,確保溫濕度長期穩(wěn)定與精確。
均勻性:獨特的風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng)設(shè)計,保證工作區(qū)內(nèi)各點溫濕度高度一致。
快速響應(yīng):高效制冷/加熱系統(tǒng)與加濕/除濕機構(gòu),實現(xiàn)工況快速切換。
安全可靠:具備多重保護(hù)(超溫、漏電、缺水、過載),箱門防凝露設(shè)計,防爆門鎖。
人性化操作:大尺寸觸摸屏,圖形化界面,支持多段編程、U盤數(shù)據(jù)存儲與導(dǎo)出。
低維護(hù)設(shè)計:模塊化結(jié)構(gòu),便于清潔和維護(hù);外部水箱或自動補水系統(tǒng)。
五、 應(yīng)用場景與技術(shù)特點
應(yīng)用場景:
研發(fā)階段:新材料(環(huán)氧樹脂、基板、焊線)、新封裝結(jié)構(gòu)(Fan-out, SiP)的可靠性驗證。
量產(chǎn)階段:批量化產(chǎn)品的質(zhì)量抽檢與可靠性監(jiān)控。
失效分析:復(fù)現(xiàn)現(xiàn)場失效,定位封裝工藝或設(shè)計缺陷。
資格認(rèn)證:滿足JEDEC(如JESD22-A101)、MIL-STD、AEC-Q100等國際標(biāo)準(zhǔn)要求。
技術(shù)特點:
耐腐蝕設(shè)計:所有內(nèi)腔及部件采用防腐蝕材料,能長期承受HAST/PCT的嚴(yán)苛條件。
信號穿通能力:配備電極引線孔或端子,支持在測試過程中對器件實時通電監(jiān)控(如進(jìn)行THB測試)。
低功耗待機:具備待機模式,在維持環(huán)境時降低能耗。
遠(yuǎn)程監(jiān)控:支持以太網(wǎng)、RS-485接口,實現(xiàn)遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集。
六、 應(yīng)用領(lǐng)域
該設(shè)備廣泛應(yīng)用于所有涉及半導(dǎo)體封裝和電子組件制造與測試的領(lǐng)域:
集成電路封裝測試廠
半導(dǎo)體器件制造商(如功率器件、傳感器、MEMS)
晶圓級封裝(WLP)與封裝研發(fā)機構(gòu)
汽車電子供應(yīng)商(用于滿足AEC-Q100/Q101等車規(guī)級認(rèn)證)
航空航天與電子單位
科研院所及高校的微電子實驗室




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