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高加速穩態濕熱試驗箱主要用于評估電子元器件在濕熱環境下的耐候性及密封性能。其核心用途是進行加速壽命試驗，通過加速水汽穿透電子元器件外部保護層（如塑封料）的過程，檢驗內部電路是否因濕氣侵入而發生腐蝕、短路或斷路。它常用于快速暴露產品設計階段的缺陷，如IC封裝內的“爆米花效應”，從而優化產品設計和制造工藝 。